Size-selective measurements of silicon-cluster polarizabilities by a cluster-beam deflection technique

verfasst von

J. Woenckhaus, R. Schäfer, J.A. Becker

Organisationseinheit(en)

Institut für Physikalische Chemie und Elektrochemie

Typ

Artikel

Journal

Surface review and letters

ISSN

0218-625X

Publikationsdatum

1996

Publikationsstatus

Veröffentlicht

Peer-reviewed

Ja

Elektronische Version(en)

https://doi.org/10.1142/S0218625X9600067X (Zugang: Unbekannt)