High-fidelity transport of trapped-ion qubits through an X-junction trap array

verfasst von

R. B. Blakestad, C. Ospelkaus, A. P. Vandevender, J. M. Amini, J. Britton, D. Leibfried, D. J. Wineland

Externe Organisation(en)

National Institute of Standards and Technology (NIST)

Typ

Artikel

Journal

Physical review letters

Band

102

ISSN

0031-9007

Publikationsdatum

16.04.2009

Publikationsstatus

Veröffentlicht

Peer-reviewed

Ja

ASJC Scopus Sachgebiete

Allgemeine Physik und Astronomie

Elektronische Version(en)

https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.102.153002 (Zugang: Unbekannt)
http://arxiv.org/pdf/0901.0533 (Zugang: Offen)