Accurate characteristic impedance measurement on silicon

verfasst von

Dylan F. Williams, Uwe Arz, Hartmut Grabinski

Abstract

This paper presents a new method that accurately determines the characteristic impedance of planar transmission lines printed on lossy dielectrics even when contact-pad capacitance and conductance are large. We demonstrate the method on a coplanar waveguide fabricated on fused silica and a microstrip line fabricated on a highly conductive silicon substrate.

Organisationseinheit(en)

Laboratorium f. Informationstechnologie

Externe Organisation(en)

National Institute of Standards and Technology (NIST)

Typ

Aufsatz in Konferenzband

Seiten

155-158

Anzahl der Seiten

4

Publikationsdatum

1998

Publikationsstatus

Veröffentlicht

Peer-reviewed

Ja

ASJC Scopus Sachgebiete

Computernetzwerke und -kommunikation, Instrumentierung

Elektronische Version(en)

https://doi.org/10.1109/ARFTG.1998.327296 (Zugang: Offen)